У період з 19 по 20 лютого 2020 року в м. Женева, Швейцарська Конфедерація, відбулося засідання 52-ї сесії Комітету експертів Союзу Міжнародної патентної класифікації (МПК) при Всесвітній організації інтелектуальної власності (ВОІВ). На зустрічі в якості представників держав-членів ВОІВ були присутні делегати з Австралії, Австрії, Азербайджану, Бразилії, Канади, Данії, Іспанії, Естонії, США, Росії, Фінляндії, Франції, Греції, Ірландії, Ізраїлю, Японії, Мексики, Німеччини, Норвегії, Нідерландів, Польщі, Португалії, Республіки Корея, Молдови, Чехії, Румунії, Великої Британії, Швеції, Швейцарії, Туреччини, України. Також аудиторію заходу склали спостерігачі з Чилі, Індії, Євразійської патентної організації та Європейської патентної організації.
Від України в засіданні взяли участь досвідчені фахівці Укрпатенту, начальник відділу патентної інформації відділення нормативно-інформаційного забезпечення Оксана Пархета та провідний експерт відділу будівельної та гірничої справи відділення експертизи заявок на винаходи, корисні моделі та топографії інтегральних мікросхем Олексій Коломієць.
Аналіз діяльності, представлений Міжнародним бюро ВОІВ, засвідчив, що Комітет показав найкращі результати роботи за останні 5 років. Традиційно висвітлювався стан класифікаційних напрямів за галузями, що є корисним з точки зору застосування МПК в процесі патентного пошуку та експертизи. Найбільше змін у рамках перегляду МПК зазнавала в галузі механіки (38 %) та електрики (35 %), а також хімії (26 %). Розділи A, B, G та H МПК за останні 5 років були такими, що найбільше переглядалися. У МПК-2020.01 значна кількість нових рубрик була відзначена в розділах В, D і G. У наступній версії найбільша кількість нових рубрик очікується в розділах B і H (до 23 % та 24 % відповідно від обсягу всіх нових рубрик), за якими слідуватимуть розділ A (15 %), розділ F (14 %) та розділ G (13 %). Нові рубрики орієнтовно розподіляться порівну між галузями механіки та електрики, а в галузі хімії їх кількість буде удвічі меншою від обсягу рубрик у зазначених галузях.
Під час зустрічі згадувалася необхідність створення нового класу H10, що охоплює напівпровідникову техніку. Відзначено, що в цьому питанні значний прогрес був досягнутий у 2019 році та на двох останніх засіданнях у рамках дискусій групи експертів з напівпровідникових технологій (EGST).
Під час заходу обговорювався сучасний стан розвитку МПК як уніфікованої системи класифікування міжнародного рівня, а також Спільної патентної класифікації (СПК) і класифікації FI, майбутніх перспектив їх розвитку з урахуванням сучасних викликів.
Значна увага була приділена питанням якісного та своєчасного класифікування та рекласифікування патентних документів відомствами, максимальної автоматизації цих процедур, яка дедалі більше пов’язана із залученням штучного інтелекту у контексті тренування та навчання відповідних систем. Відчутний прогрес у цій сфері продемонстрували представники Австралії, презентувавши систему PAC (Patent Auto-Classifier). Європейська патентна організація доповідала про використання машинного попереднього класифікування. Значного результату також досягли відомства Німеччини, Франції та Японії. Варто відзначити, що використання автоматизованих систем класифікування та застосування для цього технології штучного інтелекту дозволяють оптимізувати використання інтелектуальних ресурсів людини. Також було представлено стан розвитку нової платформи публікації МПК (IPC PUB) та інших електронних продуктів і послуг, пов’язаних з МПК (IPC WLMS, IPC E-FORUM, IPC CAT).
Інформація, отримана українською стороною в ході заходів, сприятиме гармонізації національної патентної системи із сучасною міжнародною політикою у цій сфері, дозволить удосконалити процес патентно-інформаційного пошуку, а також забезпечувати якісну рекласифікацію за МПК та ефективно організувати роботи з підготовки до запровадження її нових версій.
