Сьогодні на Державному підприємстві "Український інститут інтелектуальної власності" (Укрпатент) для експертів відділення експертизи заявок на винаходи, корисні моделі та топографії інтегральних мікросхем відбувся навчальний захід, організований відділом контролю якості та вдосконалення експертизи заявок на винаходи, корисні моделі та топографії інтегральних мікросхем (відділ контролю якості) щодо порядку зазначення класифікаційних індексів та індексних кодів у патентних документах.
1 червня 2016 року на Державному підприємстві "Український інститут інтелектуальної власності" (Укрпатент) для експертів відділення експертизи заявок на винаходи, корисні моделі та топографії інтегральних мікросхем відбувся навчальний захід, організований відділом контролю якості та вдосконалення експертизи заявок на винаходи, корисні моделі та топографії інтегральних мікросхем (відділ контролю якості) щодо порядку зазначення класифікаційних індексів та індексних кодів у патентних документах.
Доповідач – головний експерт відділу контролю якості Олена Бурова, – презентувала основні аспекти класифікування кількома індексами та використання гібридних схем під час класифікування. Увагу аудиторії було зосереджено на особливостях застосування класифікаційних індексів підкласів A01P, A61P, A61Q, B82Y – для кращого розуміння теоретичних положень доповідач ілюструвала свій виступ численними прикладами й матеріалом таблиць.
До обговорення, яке відбулося в межах заходу, долучився начальник відділення експертизи заявок на винаходи, корисні моделі та топографії інтегральних мікросхем Федір Луценко. Він звернув увагу експертів на необхідність правильного відображення індексів та індексних кодів, які характеризують внесок об’єкта винаходу та корисної моделі в рівень техніки, та тих, які є допоміжними. Федір Луценко підкреслив також важливість представлення якісної національної документації у світових патентних базах даних, особливо з огляду на потребу підтримання належного рівня авторитету Укрпатенту як МПО й ОМПЕ.
|
|
|
