Згідно з дорученням Голови Державної служби інтелектуальної власності України Алли Жарінової (від 01.10.2015 № 34) Державним підприємством «Український інститут інтелектуальної власності» уводиться в промислову експлуатацію онлайн-система електронного подання заявок на об’єкти промислової власності в частині, що стосується складання, подання та експертизи заявок на винаходи, корисні моделі та знаки для товарів і послуг.
Згідно з дорученням Голови Державної служби інтелектуальної власності України (ДСІВ) Алли Жарінової (від 01.10.2015 № 34) Державним підприємством «Український інститут інтелектуальної власності» (Укрпатент) уводиться в промислову експлуатацію онлайн-система електронного подання заявок на об’єкти промислової власності в частині, що стосується складання, подання та експертизи заявок на винаходи, корисні моделі та знаки для товарів і послуг.
За словами Алли Жарінової, система електронного подання заявок, яка була створена в Укрпатенті, упродовж 2011 – 2015 років працювала в режимі дослідної експлуатації. У цей період система проходила всебічне тестування, постійно вдосконалюючись з урахуванням зауважень експертів і заявників. Її основними перевагами є скорочення загального строку обробки заявки від часу подання до моменту публікації, зменшення кількості помилок у матеріалах до патенту, що публікується.
– Промислова експлуатація системи забезпечить приймання зазначених типів заявок і проведення їх експертизи з дотриманням вимог Закону України «Про електронні документи та електронний документообіг», а також відповідних нормативно-правових актів. Це означає, що віднині в разі електронного подання заявки не вимагатиметься її подання на папері, – підкреслила Алла Жарінова.
Одночасно з уведенням в промислову експлуатацію системи електронного подання заявок на винаходи, корисні моделі та знаки для товарів і послуг розпочинається шестимісячний період дослідної експлуатації онлайн-системи електронного подання заявок на об’єкти промислової власності в частині, яка стосується складання, подання та експертизи заявок на промислові зразки, зазначення походження товарів і топографії інтегральних мікросхем.
02 жовтня 2015