2 березня 2016 року в Державному підприємстві "Український інститут інтелектуальної власності" (Укрпатент) для експертів відділення експертизи заявок на винаходи, корисні моделі та топографії інтегральних мікросхем (ТІМ) відбувся навчальний захід, організований відділом контролю якості та вдосконалення експертизи заявок на винаходи, корисні моделі та ТІМ і відділом фізико-технічних технологій, присвячений роз’ясненню певних питань, пов’язаних з проведенням експертизи заявок на винаходи та корисні моделі.

2 березня 2016 року в Державному підприємстві "Український інститут інтелектуальної власності" (Укрпатент) для експертів відділення експертизи заявок на винаходи, корисні моделі та топографії інтегральних мікросхем (ТІМ) відбувся навчальний захід, організований відділом контролю якості та вдосконалення експертизи заявок на винаходи, корисні моделі та ТІМ і відділом фізико-технічних технологій, присвячений роз’ясненню певних питань, пов’язаних з проведенням експертизи заявок на винаходи та корисні моделі.

 

 

Заступник начальника відділу контролю якості та вдосконалення експертизи заявок на винаходи, корисні моделі та ТІМ Кирило Ронський у своїй доповіді продемонстровав аудиторії напрацювання відділення щодо ефективного використання Методичних рекомендацій з окремих питань експертизи заявки на винахід та заявки на корисну модель (схвалених рішенням Колегії Державної служби інтелектуальної власності України від 18.03.2014, затверджених наказом Укрпатенту від 07.04.2014 № 91 та оприлюднених на сайті Укрпатенту в розділі «Офіційні публікації» / «Методичні та довідкові видання») для забезпечення якісної експертизи. У презентації фахівця йшлося також про застосування міжнародних норм права відповідно до Договору про патенту кооперацію (PCT) та Договору про патентне право (PLT). З-поміж іншого предметом уваги було поновлення діловодства за заявкою відповідно до Правила 13 статті 12 Договору PLT, а також застосування норм Керівництва РСТ з проведення міжнародного пошуку та міжнародної попередньої експертизи.

У рамках навчання головний експерт сектору електротехніки та приладобудування відділу фізико-технічних технологій Андрій Веременко презентував доповідь на тему «Google Patents як інструмент патентного фахівця: огляд та приклади», присвячену застосуванню безкоштовного пошукового ресурсу Google Patents для проведення патентно-інформаційних пошуків.

У ході заходу начальник відділення експертизи заявок на винаходи, корисні моделі та ТІМ Федір Луценко надав коментарі та рекомендації для експертів очолюваного ним відділення з приводу порушених під час зустрічі питань, а також підкреслив необхідність поглибленого вивчення Методичних рекомендацій з окремих питань проведення експертизи заявки на винахід (корисну модель).

 

03 березня 2016